三豐Mitutoyo 輪廓儀CV-2100系列-產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)勢

CV-2100輪廓測量儀是實(shí)現(xiàn)『簡便· 準(zhǔn)確· 快速』測量的輪廓形狀測量儀。

● 與測量操作相關(guān)的配置集中設(shè)置在主機(jī)前面，大幅縮短了操作流程。

● 與測量操作相關(guān)的配置集中設(shè)置在主機(jī)前面，大幅縮短了操作流程。

● 裝配了新開發(fā)的可以簡便快速垂直移動的臺架（僅CV-2100M4裝配），Z軸方向的測量高度可以輕松快速的接近或退避。

● Z1軸（檢出器）裝配高精度圓弧標(biāo)尺，通過直讀測針尖&端的圓弧軌道，減少檢測機(jī)構(gòu)導(dǎo)致的誤差，確保高精度和高分辨力?？梢韵衲M方式那樣切換測量倍率，也可以在整個測量范圍內(nèi)進(jìn)行測量，而不需要對每個倍率進(jìn)行校正。

相對測針的進(jìn)給方向，測針可以按照被測物的形狀上升或下降的極限角度叫做跟蹤角度。

如圖，測針頂端角度為12o的切面測針，上升角度77o，下降角度87o。

如果是圓錐形測針(30o圓錐)的話，極限傾斜度會變得緩和。表面上看雖然是77o，但是，受上行斜面表面粗糙度的影響，會部分存在77o以上的斜面，測力也會受到影響。

根據(jù)測針的頂端半徑(0.025mm)，記錄圖形會成為在測量物表面上滾動的球體的中心軌跡。通過對這一測針的頂端半徑進(jìn)行數(shù)據(jù)處理上的補(bǔ)償，可以得到精確的測量值和形狀記錄。

由于X和Z軸的檢出器配置了刻度，放大倍率精度不顯示百分比但顯示各軸的直線位置精度。

這是測針上下動作時，測頭劃出的軌跡，有圓弧和直線兩種。

做直線運(yùn)動時，機(jī)械構(gòu)造復(fù)雜，做圓弧運(yùn)動時，測針的上下移動量較大，會由于圓弧形變(δ)而導(dǎo)致記錄圖形出現(xiàn)偏差。(參照下圖“圓弧形變")

測頭做圓弧運(yùn)動時，會在記錄圖形的X軸方向上出現(xiàn)變形偏差。作為補(bǔ)償圓弧變形的手段有:

①機(jī)械補(bǔ)償法：

②電子補(bǔ)償法：

③通過軟件演算來補(bǔ)償?shù)姆椒ǎ?/span>

在對上下方向上移動量較大的測量物進(jìn)行高精度測量時，需要補(bǔ)償圓弧變形。

X軸驅(qū)動檢測一般使用數(shù)字光柵尺進(jìn)行檢測。Z軸檢測方式有模擬方式(差動變壓器)和數(shù)字光柵尺方式兩種。模擬方式會因?yàn)闇y量倍率和測量范圍出現(xiàn)Z軸分辨力的變化。數(shù)字光柵尺則遵循光柵尺的分辨力。一般來說，數(shù)字光柵尺的方式精度較高。

由于輪廓形狀的斜面角度大或者有毛刺存在，測針頂端出現(xiàn)超負(fù)荷時，為了防止測針損傷，可以自動停止運(yùn)轉(zhuǎn)，并發(fā)出蜂鳴警報。

一般情況下，按進(jìn)給方向(X軸方向)的負(fù)荷和上下方向(Z軸方向)的負(fù)荷分別裝備。如CV-3200/4500，若支臂從檢出器的安裝面脫離下時會啟動安裝裝置。

完成測量操作后，可以按照以下兩種方法之一分析輪廓形狀。

數(shù)據(jù)處理裝置和解析程序。

測得的輪廓形狀，實(shí)時輸入到數(shù)據(jù)處理裝置中，然后通過鼠標(biāo)或鍵盤運(yùn)行專用的分析程序。

角度、半徑、段差，和等間距用數(shù)值直接顯示。

另外還可以輕松地結(jié)合坐標(biāo)系進(jìn)行解析。記錄圖形經(jīng)測針半徑補(bǔ)償后可打印輸出。

當(dāng)被測量的輪廓形狀數(shù)據(jù)有標(biāo)準(zhǔn)時，要根據(jù)基準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計值的檢驗(yàn)。沒有基準(zhǔn)或只檢驗(yàn)形狀時，可以用設(shè)計數(shù)據(jù)與測量數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合。

擬合從兩組數(shù)據(jù)來求偏差量，求二次方的和為最小值的坐標(biāo)系，使測量數(shù)據(jù)與設(shè)計數(shù)據(jù)重合。

與其說對圖形顯示的尺寸的解析，不如說是作為“形狀"與設(shè)計數(shù)據(jù)的比較并顯示和記錄其偏差。另外，將基準(zhǔn)測量物轉(zhuǎn)變成設(shè)計的數(shù)據(jù)與測量數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。尤其當(dāng)這一部分的形狀影響商品性能的時候，或由于與組合部件的關(guān)系產(chǎn)生影響時使用較多。

由于測針跟蹤角度的限制，測量圖形會被分割成多個部分分別進(jìn)行測量和評估。數(shù)據(jù)合成功能解決了這個問題，可將其拼接合成為一個完整的圖形能。

由此，可以被測物的整體圖形得以顯示，從而進(jìn)行各種解析。

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